WKFI-M2是一款测量光纤跳线端面参数的高端精密设备，是保证光纤连接器传输效率的必备仪器，在光纤通信制造领域有着十分重要的应用。

可测量直径为2.5mm或1.25mm的SC/PC、SC/APC、FC/PC、FC/APC、LC/PC、LC/APC等标准光纤连接器和插芯。输出参数包括连接器端面的曲率半径、顶点偏移、光纤高度、APC角度、健度等几何指标，可辅助提高光纤端面的研磨质量，生产高品质的光纤连接器。

产品特点

低成本、多功能光纤端面3D干涉仪

0~12°内APC任意角度精确调节

全密封光学结构设计

测量精准、快速，超高的重复性与再现性

权威检测机构认证

经中国计量科学研究院认证，测试结果更加准确可靠。

0~12°内APC任意角度精确调节

采用先进的旋转编码器闭环反馈控制，实现精确角度调节，控制精度达0.0027°。满足用户对于特殊连接器角度的测量需求。

全密封光学结构设计

杜绝灰尘进入，长时间使用仍能保持高品质的光学成像。

全新的夹具结构设计

采用双缓冲设计，锁紧与放松均自适应调节，保证了测量精度及复现性的同时大幅度提升了夹具寿命。

自动居中功能

无需手动寻找光纤中心，只需进行正常测量，自动找到光纤中心。

简洁明了的软件界面设计

界面清新、可同时显示二维干涉图、三维端面图，方便工程师分析端面并作出研磨改进。

手动校准功能

通过简洁明了的图示，用户即可轻松完成调整X轴和Y轴参考镜角度，使仪器光学系统处于最佳使用状态，从而获得准确的测量数据，大大节约了使用成本及维护成本。

极强的抗脏点能力

光纤端面即使有脏点，设备仍然可以测量和计算出准确结果，独特的抗震设计使其能够在多种复杂工况条件下适用。

性能参数